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新型電阻率方塊電阻測試儀

產(chǎn)品簡介

新型電阻率方塊電阻測試儀
產(chǎn)品型號：KDB-1
本方阻測試新產(chǎn)品為薄膜測試提供機械、電氣兩方面的保護，在寬廣的量程范圍內(nèi)，使各種電子薄膜能得到準確、無損的方塊電阻測量結(jié)果。

產(chǎn)品型號：KDB-1

更新時間：2024-02-04

廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商

訪問量：2161

產(chǎn)品咨詢 15562333119

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產(chǎn)品分類

無損檢測設(shè)備

監(jiān)測儀高斯計回彈儀數(shù)顯拉開法附著力測試儀電動倒角器磨音測量儀罐底焊縫真空檢測盒全自動氧彈熱量計/量熱儀汽油辛烷值柴油十六烷值測定儀水分儀其他常用儀器電阻測試儀玻璃瓶抗沖擊試驗機混凝土抗壓強度檢測儀拉脫儀便攜式渦流導電儀元素分析儀測厚儀炭黑含量測試儀色度/色差儀萬能試驗機光澤度儀熱膨脹系數(shù)測定儀數(shù)顯玻璃應(yīng)力儀多功能特斯拉計磁導率測量儀超聲波強度測量儀紅外測溫儀罐底耐壓檢測儀

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品牌	其他品牌	產(chǎn)地類別	國產(chǎn)
類型	其他	應(yīng)用領(lǐng)域	綜合
壓力	25g～250g

新型電阻率方塊電阻測試儀

產(chǎn)品型號：KDB-1

本方阻測試新產(chǎn)品為薄膜測試提供機械、電氣兩方面的保護，在寬廣的量程范圍內(nèi)，使各種電子薄膜能得到準確、無損的方塊電阻測量結(jié)果。
由于新型薄膜材料種類繁多，研制過程中樣品性能變化較大，而且各種薄膜的機械強度，允許承受的電壓、電流均不相同，因此KDB-1型測試儀可為用戶量身定制各種特定探針壓力及曲率半徑的探針頭，儀器的測試電流分7檔，可由0.4μA增加到大為1000mA，測試電壓可由8V增加到80V，測試電壓和測試電流均可連續(xù)調(diào)節(jié)，給薄膜、涂層的研制者提供了一個摸索測試條件的寬闊空間。
由于儀器設(shè)有恒流源開關(guān)，并且所有電流檔在探針與樣品接觸后均有電流延時接通的功能，充分保護了樣品表面不會因為探針接觸時產(chǎn)生的電火花而受到損壞。
儀器性能
方阻測量范圍：1×10-5～2×106Ω/□，小分辨率1×10-5Ω/□；
電阻率測量范圍：1×10-6～2×105Ω·cm或1×10-8～2×103Ω·m，小分辨率1×10-6Ω·cm或1×10-8Ω·m；
探針壓力：25g～250g；
探針曲率半徑：25μm～450μm
（注：探針壓力及曲率半徑可根據(jù)薄膜材料性能及用戶需求定制）；
測試電流分7檔：1μA、10μA、100μA、1mA、10 mA、100 mA、1000 mA；
測試電壓：（1μA～10 mA檔）12～80V連續(xù)可調(diào)
（100mA檔） 8～36V連續(xù)可調(diào)
（1000mA檔） 8～15V連續(xù)可調(diào)；
測量方式：手動或自動（配置**用測試軟件）；
測量對象：導電薄膜、半導體薄膜、電力電容器鋁箔、各種金屬箔、銀漿涂層、鋰電池隔膜等各種新型電子薄膜；各種半導體材料的電阻率。